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本发明提供一种天线抗干扰材料检测方法。所述天线抗干扰材料检测方法先将待测吸波材料片设于天线的一侧并将天线的阻抗调整为预设的参考阻抗，而后将金属片设置于待测吸波材料片远离天线一侧的预设位置，测量将金属片设置于待测吸波材料片远离天线的一侧的预设...
该专利属于深圳市德卡科技股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过深圳市德卡科技股份有限公司授权不得商用。

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