天线抗干扰材料检测方法技术

本发明专利技术提供一种天线抗干扰材料检测方法。所述天线抗干扰材料检测方法先将待测吸波材料片设于天线的一侧并将天线的阻抗调整为预设的参考阻抗，而后将金属片设置于待测吸波材料片远离天线一侧的预设位置，测量将金属片设置于待测吸波材料片远离天线的一侧的预设位置时天线的实际阻抗并计算其与参考阻抗的差值，得到待测吸波材料片对应的天线阻抗变化量，随后将待测吸波材料片对应的天线阻抗变化量与预设的标准变化范围进行比较以判定待测吸波材料片的材料是否符合标准，能够高效且准确地对吸波材料的性能进行测试。

Detection Method of Anti-interference Material for Antenna

【技术实现步骤摘要】
天线抗干扰材料检测方法
本专利技术涉及天线测试
，尤其涉及一种天线抗干扰材料检测方法。
技术介绍
天线是一种变换器，它把传输线上传播的导行波，变换成在无界媒介(通常是自由空间)中传播的电磁波，或者进行相反的变换，是在无线电设备中用来发射或接收电磁波的部件。无线电通信、广播、电视、雷达、导航、电子对抗、遥感、射电天文等工程系统，凡是利用电磁波来传递信息的，都依靠天线来进行工作。近场通信(nearfieldcommunication)是一种新兴的技术，使用了NFC技术的设备(比如手机)可以在彼此靠近的情况下进行数据交换，是由非接触式射频识别(RFID)及互连互通技术整合演变而来，通过在单一芯片上集成感应式读卡器、感应式卡片和点对点通信的功能，利用移动终端实现移动支付、电子票务、门禁、移动身份识别、防伪等应用。NFC技术中一般利用NFC天线实现数据的交换。现有技术中，NFC天线在靠近金属材料时，会在金属材料上形成涡流，从而使得NFC天线的能量消耗在金属材料上，使得NFC天线的数据传输效果变差，为了解决这一问题，现有技术通常在NFC天线的背面贴附一层吸波材料层，以降低金属材料对于NFC天线的干扰。目前的吸波材料性能测试方法得到的测试结果的准确度较差，且需要较为专业的测试设备与复杂繁琐的测试过程，实现难度较大。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种天线抗干扰材料检测方法，能够高效且准确地对吸波材料的性能进行测试。为实现上述目的，本专利技术提供一种天线抗干扰材料检测方法，包括如下步骤：步骤S1、提供天线、待测吸波材料片及金属片；步骤S2、将待测吸波材料片设于天线的一侧；步骤S3、将天线的阻抗调整为预设的参考阻抗；步骤S4、将金属片设置于待测吸波材料片远离天线一侧的预设位置，测量将金属片设置于待测吸波材料片远离天线的一侧的预设位置时天线的实际阻抗并计算其与参考阻抗的差值，得到待测吸波材料片对应的天线阻抗变化量；步骤S5、将待测吸波材料片对应的天线阻抗变化量与预设的标准变化范围进行比较，若待测吸波材料片对应的天线阻抗变化量满足预设的标准变化范围时，则判定该待测吸波材料片的材料符合标准，否则判定该待测吸波材料片的材料不符合标准。所述步骤S1还将天线的阻抗调整为预设的初始阻抗。所述参考阻抗与初始阻抗相同或不同。所述参考阻抗中的电阻为50Ω，电抗为0，所述初始阻抗中的电阻为50Ω，电抗为0。所述参考阻抗中的电阻为60Ω，电抗为XΩ，其中，X为预设的参考电抗值，所述初始阻抗中的电阻为50Ω，电抗为0。所述步骤S1中将天线的阻抗调整为预设的初始阻抗的具体过程为：对天线的阻抗进行调整同时利用矢量网络分析仪实时测量天线的阻抗，直至将天线的阻抗调整为初始阻抗；所述步骤S3具体为：对天线的阻抗进行调整同时利用矢量网络分析仪实时测量天线的阻抗，直至将天线的阻抗调整为参考阻抗；所述步骤S4中，利用矢量网络分析仪测量将金属片设置于待测吸波材料片远离天线的一侧的预设位置时天线的实际阻抗。所述步骤S4中，分别将金属片设置于待测吸波材料片远离天线一侧的多个预设位置，分别测量将金属片设置于待测吸波材料片远离天线的一侧的多个预设位置时天线的实际阻抗，分别计算将金属片设置于待测吸波材料片远离天线的一侧的多个预设位置时天线的实际阻抗与参考阻抗的差值，得到待测吸波材料片对应的多个天线阻抗变化量，多个天线阻抗变化量分别与多个预设位置对应。所述多个预设位置沿远离待测吸波材料片的方向依次设置，任意两个相邻的预设位置之间的距离相等，最靠近待测吸波材料片的预设位置与待测吸波材料片远离天线的一侧之间的距离为0。多个预设位置的数量为三个，该三个预设位置之间的间隔均为0.5cm。所述天线的工作频率为13.56MHz。本专利技术的有益效果：本专利技术的天线抗干扰材料检测方法先将待测吸波材料片设于天线的一侧并将天线的阻抗调整为预设的参考阻抗，而后将金属片设置于待测吸波材料片远离天线一侧的预设位置，测量将金属片设置于待测吸波材料片远离天线的一侧的预设位置时天线的实际阻抗并计算其与参考阻抗的差值，得到待测吸波材料片对应的天线阻抗变化量，随后将待测吸波材料片对应的天线阻抗变化量与预设的标准变化范围进行比较以判定待测吸波材料片的材料是否符合标准，能够高效且准确地对吸波材料的性能进行测试。附图说明为了能更进一步了解本专利技术的特征以及
技术实现思路
，请参阅以下有关本专利技术的详细说明与附图，然而附图仅提供参考与说明用，并非用来对本专利技术加以限制。附图中，图1为本专利技术的天线抗干扰材料检测方法的流程图；图2为本专利技术的天线抗干扰材料检测方法的步骤S2及S3的示意图；图3为本专利技术的天线抗干扰材料检测方法的步骤S4的示意图。具体实施方式为更进一步阐述本专利技术所采取的技术手段及其效果，以下结合本专利技术的优选实施例及其附图进行详细描述。请参阅图1，本专利技术提供一种天线抗干扰材料检测方法，包括如下步骤：步骤S1、提供天线1、待测吸波材料片2及金属片3。具体地，所述天线1为NFC天线。具体地，所述待测吸波材料片2的材料可以为铁氧体材料。具体地，所述天线1呈线圈状，所述待测吸波材料片2及金属片3的面积均大于天线1的线圈边缘所围区域。具体地，所述步骤S1还将天线1的阻抗调整为预设的初始阻抗。进一步地，所述步骤S1中将天线1的阻抗调整为预设的初始阻抗的具体过程为：对天线1的阻抗进行调整同时利用矢量网络分析仪4实时测量天线1的阻抗，直至将天线1的阻抗调整为初始阻抗。优选地，所述初始阻抗中的电阻为50Ω，电抗为0。具体地，所述天线1的工作频率为13.56MHz。步骤S2、请参阅图2，将待测吸波材料片2设于天线1的一侧。具体地，所述步骤S2中，将待测吸波材料片2与天线1所在平面平行设置，并使得待测吸波材料片2的边缘位于天线1的线圈边缘外侧。步骤S3、将天线1的阻抗调整为预设的参考阻抗。具体地，请参阅图2，所述步骤S3具体为：对天线1的阻抗进行调整同时利用矢量网络分析仪4实时测量天线1的阻抗，直至将天线1的阻抗调整为参考阻抗。具体地，所述参考阻抗可以与初始阻抗相同，也可以与初始阻抗不同，依据具体测试情况进行选取。优选地，所述参考阻抗可以与初始阻抗相同，所述参考阻抗中的电阻为50Ω，电抗为0。或者，所述参考阻抗与初始阻抗不同，所述参考阻抗中的电阻为60Ω，电抗为XΩ。步骤S4、请参阅图3，将金属片3设置于待测吸波材料片2远离天线1一侧的预设位置，测量将金属片3设置于待测吸波材料片2远离天线1的一侧的预设位置时天线1的实际阻抗并计算其与参考阻抗的差值，得到待测吸波材料片2对应的天线阻抗变化量。具体地，所述步骤S4中，将金属片3与天线1所在平面平行设置。具体地，请参阅图3，所述步骤S4中，利用矢量网络分析仪4测量将金属片3设置于待测吸波材料片2远离天线1的一侧的预设位置时天线1的实际阻抗。具体地，所述步骤S4中，分别将金属片3设置于待测吸波材料片2远离天线1一侧的多个预设位置，分别测量将金属片3设置于待测吸波材料片2远离天线1的一侧的多个预设位置时天线1的实际阻抗，分别计算将金属片3设置于待测吸波材料片2远离天线1的一侧的多个预设位置时天线1的实际阻抗与参考阻抗的差值，得到待测吸波材料片2对应的多个天线阻抗变化量，多个天线阻抗变化量分别与多个本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种天线抗干扰材料检测方法，其特征在于，包括如下步骤：步骤S1、提供天线(1)、待测吸波材料片(2)及金属片(3)；步骤S2、将待测吸波材料片(2)设于天线(1)的一侧；步骤S3、将天线(1)的阻抗调整为预设的参考阻抗；步骤S4、将金属片(3)设置于待测吸波材料片(2)远离天线(1)一侧的预设位置，测量将金属片(3)设置于待测吸波材料片(2)远离天线(1)的一侧的预设位置时天线(1)的实际阻抗并计算其与参考阻抗的差值，得到待测吸波材料片(2)对应的天线阻抗变化量；步骤S5、将待测吸波材料片(2)对应的天线阻抗变化量与预设的标准变化范围进行比较，若待测吸波材料片(2)对应的天线阻抗变化量满足预设的标准变化范围时，则判定该待测吸波材料片(2)的材料符合标准，否则判定该待测吸波材料片(2)的材料不符合标准。

【技术特征摘要】
1.一种天线抗干扰材料检测方法，其特征在于，包括如下步骤：步骤S1、提供天线(1)、待测吸波材料片(2)及金属片(3)；步骤S2、将待测吸波材料片(2)设于天线(1)的一侧；步骤S3、将天线(1)的阻抗调整为预设的参考阻抗；步骤S4、将金属片(3)设置于待测吸波材料片(2)远离天线(1)一侧的预设位置，测量将金属片(3)设置于待测吸波材料片(2)远离天线(1)的一侧的预设位置时天线(1)的实际阻抗并计算其与参考阻抗的差值，得到待测吸波材料片(2)对应的天线阻抗变化量；步骤S5、将待测吸波材料片(2)对应的天线阻抗变化量与预设的标准变化范围进行比较，若待测吸波材料片(2)对应的天线阻抗变化量满足预设的标准变化范围时，则判定该待测吸波材料片(2)的材料符合标准，否则判定该待测吸波材料片(2)的材料不符合标准。2.如权利要求1所述的天线吸波材料性测试方法，其特征在于，所述步骤S1还将天线(1)的阻抗调整为预设的初始阻抗。3.如权利要求2所述的天线抗干扰材料检测方法，其特征在于，所述参考阻抗与初始阻抗相同或不同。4.如权利要求3所述的天线抗干扰材料检测方法，其特征在于，所述参考阻抗中的电阻为50Ω，电抗为0，所述初始阻抗中的电阻为50Ω，电抗为0。5.如权利要求3所述的天线抗干扰材料检测方法，其特征在于，所述参考阻抗中的电阻为60Ω，电抗为XΩ，其中，X为预设的参考电抗值，所述初始阻抗中的电阻为50Ω，电抗为0。6.如权利要求2所述的天线抗干扰材料检测方法，其特征在于，所述步骤S1中将天线(1)的阻抗调整为预设的初始阻抗的具体过程...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘龙，贾立民，
申请(专利权)人：深圳市德卡科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：广东,44