下载体积测量方法、装置、系统和计算机可读存储介质的技术资料

文档序号:21567840

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本发明公开了一种体积测量方法、装置、系统和计算机可读存储介质,涉及辐射领域。体积测量方法,包括:根据从加速器靶点发射的多条X射线的测量结果,确定被测对象在每条X射线所在方向上的厚度;根据位于被测对象的同一个截面的每条X射线对应的厚度,确定相...
该专利属于同方威视技术股份有限公司;同方威视科技(北京)有限公司;清华大学所有,仅供学习研究参考,未经过同方威视技术股份有限公司;同方威视科技(北京)有限公司;清华大学授权不得商用。

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