体积测量方法、装置、系统和计算机可读存储介质制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种体积测量方法、装置、系统和计算机可读存储介质，涉及辐射领域。体积测量方法，包括：根据从加速器靶点发射的多条X射线的测量结果，确定被测对象在每条X射线所在方向上的厚度；根据位于被测对象的同一个截面的每条X射线对应的厚度，确定相应截面的面积；根据被测对象的截面的面积确定被测对象的体积。通过将X射线扫描应用于体积测量中，可以通过X射线的测量结果获得被测对象的物质类型和多个位置、角度的尺寸信息，从而可以更准确地测量被测对象的体积。

Volume measurement methods, devices, systems and computer-readable storage media

【技术实现步骤摘要】
体积测量方法、装置、系统和计算机可读存储介质
本专利技术涉及辐射领域，特别涉及一种体积测量方法、装置、系统和计算机可读存储介质。
技术介绍
相关技术提供了一种通道式体积测量系统，通常采用区域激光传感器作为测量工具，以获取被测物体的外形数据。通过采用特定的算法，能够得到被测物体的体积。例如，一种简单测量物体长宽高极值的系统，可以用于交通运输行业的限高、限宽检查，以及滚装船仓位分配等领域。另一种体积测量系统，在取得被测量物体长宽高极值的同时，可以精细测取物体的侧面形貌系统，进而根据车辆的实时速度计算出物体体积。系统局限于只能靠区域激光的图像识别算法，大致得到车辆底盘的高度，在体积计算中予以去除，实现底盘剥离的目的。
技术实现思路
专利技术人认识到，相关技术提供的系统不具备物质穿透的能力，也不具备物质识别能力，因此无法区分货物与车辆底盘。当货物置于货斗或集装箱等容器内时，系统只能得到容器的体积，而无法得到物体的实际体积。并且，相关技术只能基于物体的长宽高极值进行计算。对于不规则的物体，无法准确地测量其尺寸。因此，相关技术的计算精度较低。本专利技术实施例所要解决的一个技术问题是：如何提高体积测量本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种体积测量方法，包括：根据从加速器靶点发射的多条X射线的测量结果，确定被测对象在每条X射线所在方向上的厚度；根据位于被测对象的同一个截面的每条X射线对应的所述厚度，确定相应截面的面积；根据被测对象的截面的面积确定被测对象的体积。

【技术特征摘要】
1.一种体积测量方法，包括：根据从加速器靶点发射的多条X射线的测量结果，确定被测对象在每条X射线所在方向上的厚度；根据位于被测对象的同一个截面的每条X射线对应的所述厚度，确定相应截面的面积；根据被测对象的截面的面积确定被测对象的体积。2.根据权利要求1所述的体积测量方法，其中，所述根据位于被测对象的同一个截面的每条X射线对应的所述厚度，确定相应截面的面积包括：根据位于被测对象的同一个截面的每条X射线对应的所述厚度，计算被测对象的截面上由X射线分割的每个子区域的面积；根据被测对象的截面上所有子区域的面积，确定相应截面的面积。3.根据权利要求1所述的体积测量方法，还包括：确定加速器靶点与X射线上的近端交点的近端距离，其中，所述近端交点是每条X射线与被测对象的交点中距离加速器靶点最近的交点；所述根据位于被测对象的同一个截面的每条X射线对应的所述厚度，确定相应截面的面积包括：根据位于被测对象的同一个截面的每条X射线对应的所述厚度和所述近端距离，确定相应截面的面积。4.根据权利要求3所述的体积测量方法，其中，所述根据位于被测对象的同一个截面的每条X射线对应的所述厚度和所述近端距离，确定相应截面的面积包括：根据相邻两条X射线对应的近端距离确定第一参数；根据被测对象在所述相邻两条X射线所在方向上的厚度确定第二参数；以加速器靶点为圆心、以被测对象的截面上相邻两条X射线的夹角为圆心角、以第一参数作为扇环的内径、以第二参数作为扇环的外径和内径之差，计算扇环面积，作为所述相邻两条X射线所在的被测对象的截面以及所述相邻两条X射线对应的子区域的面积；根据被测对象的截面上所有子区域的面积，确定相应截面的面积。5.根据权利要求3所述的体积测量方法，其中，所述确定加速器靶点与每条X射线上的近端交点的近端距离包括：获取激光扫描仪测量的从激光扫描仪到被测对象的测量面上的一个或多个点的第一相对位置信息；根据第一相对位置信息以及激光扫描仪与加速器靶点之间的第二相对位置信息，确定加速器靶点与每条X射线上的近端交点的近端距离。6.根据权利要求5所述的体积测量方法，其中，根据从位于被测对象的第一方位的加速器靶点发射的多条第一X射线的测量结果，确定被测对象在每条第一X射线所在方向上的厚度；根据位于被测对象的目标截面的每条第一X射线对应的所述厚度，确定相应截面的第一面积；根据从位于被测对象的第二方位的加速器靶点发射的多条第二X射线的测量结果，确定被测对象在每条第二X射线所在方向上的厚度；根据位于被测对象的目标截面的每条第二X射线对应的所述厚度，确定相应截面的第二面积；根据被测对象的目标截面的第一面积和第二面积中的最大值确定被测对象的体积。7.根据权利要求1所述的体积测量方法，其中，加速器靶点发射的X射线的方向与被测对象的移动方向垂直。8.根据权利要求7所述的体积测量方法，其中，所述根据被测对象的截面面积确定被测对象的体积包括：获取被测对象的移动速度和通过预设标志物的通过时间；根据被测对象的移动速度、通过时间和截面面积，确定被测对象的体积。9.根据权利要求1所述的体积测量方法，其中，所述根据被测对象的截面面积确定被测对象的体积包括：获取被测对象的多个截面的面积；根据相邻截面的距离，确定被测对象中由截面分割的每个子块的体积；根据被测对象的所有子块的体积，确定被测对象的体积。10.根据权利要求1所述的体积测量方法，还包括：获取被测对象的重量；根据被测对象的重量和体积，计算被测对象的密度；响应于计算的被测对象的密度与预先获取的被测对象的密度的差异大于预设范围，将被测对象的状态确定为异常。11.根据权利要求1所述的体积测量方法，其中，被测对象位于车辆上，所述加速器靶点高于被测对象的最低面。12.一种体积测量装置，包括：厚度确定模块，被配置为根据从加速器靶点发射的多条X射线的测量结果，确定被测对象在每条X射线所在方向上的厚度；截面面积确定模块，被配置为根据位于被测对象的同一个截面的每条X射线对应的厚度，确定相应截面的面积；体积确定模块，被配置为根据被测对象的截面的面积确定被测对象的体积。13.根据权利要求12所述的体积测量装置，其中，所述截面面积确定模块...

【专利技术属性】
技术研发人员：王永明，涂俊杰，刘必成，张浩然，许艳伟，喻卫丰，胡煜，宗春光，
申请(专利权)人：同方威视技术股份有限公司，同方威视科技北京有限公司，清华大学，
类型：发明
国别省市：北京,11