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本发明涉及测试电路技术领域，尤其涉及一种匹配晶体负载电容的测试电路及测试方法，一处理单元，处理单元用于根据一时钟信号，以时钟信号为基本频率工作并产生一测试信号；时钟信号由一时钟单元和一分频单元产生，分频单元的输入端连接时钟单元的输出端，时钟...
该专利属于晶晨半导体（上海）股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过晶晨半导体（上海）股份有限公司授权不得商用。

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