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本发明公开了一种测量结型器件温度及自热效应的方法。传统的测试方法只能测得器件的平均温度。随着电路的频率不断增大，平均温度和瞬时温度的差异不断扩大，相应的，器件的参数在两种情况下的偏差进一步增大。本发明利用瞬时的电学响应和温度间的关系，得到器...
该专利属于浙江大学所有，仅供学习研究参考，未经过浙江大学授权不得商用。

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