专利查询
首页
专利评估
登录
注册
当前位置:
首页
>
专利查询
>
合肥晶合集成电路有限公司
>
可感测基片破损的片盒制造技术
>技术资料下载
下载可感测基片破损的片盒的技术资料
文档序号:21496773
温馨提示:您尚未登录,请点
登陆
后下载,如果您还没有账户请点
注册
,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。
本实用新型提供了一种可感测基片破损的片盒。利用片盒内相邻的隔断层将每一放置层密封在一密闭空间中,并在将基片放置于放置层上时,可利用基片将密闭空间划分为第一腔室和第二腔室。由于第一腔室中通入有气体,从而可通过感测第二腔室中的气压,并根据第二腔...
该专利属于合肥晶合集成电路有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过合肥晶合集成电路有限公司授权不得商用。
详细技术文档下载地址
温馨提示:您尚未登录,请点
登陆
后下载,如果您还没有账户请点
注册
,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。