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本发明提供一种存储器电路及其测试方法。存储器电路包括多级非易失性存储器装置。第N级非易失性存储器装置包括逻辑存储器电路、非易失性存储元件、写电路以及读电路。逻辑存储器电路在正常模式中透过资料输入端接收外部资料并且在测试模式中透过测试输入端接...
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