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本发明提供一种测定装置及测定方法，用于提高电子元器件的待测量的测定精度。其具备电流提供部、电压检测部和处理部，处理部基于从各电流提供部分别经由第一输出端子和第二输出端子而提供的各测定用电流的各电流值、由电压检测部检测出的电压值，测定多个电阻...
该专利属于日置电机株式会社所有，仅供学习研究参考，未经过日置电机株式会社授权不得商用。

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