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本申请涉及检查发光元件的方法和用于检查发光元件的装置，该方法和装置可确定发光二极管的密度、形状缺陷和对齐状态，该方法包括：准备其上设置有第一电极和第二电极的衬底；将包括多个发光元件的溶液施加至第一电极和第二电极上；向第一电极和第二电极施加第...
该专利属于三星显示有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过三星显示有限公司授权不得商用。

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