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基于片光显微和共焦狭缝探测的谐波显微测量方法技术
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下载基于片光显微和共焦狭缝探测的谐波显微测量方法的技术资料
文档序号:21375458
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基于片光显微和共焦狭缝探测的谐波显微测量方法属于非线性光学测量领域;在谐波显微测量中,将谐波信号的探测方向垂直于样品照明方向,从而实现谐波显微中的片光测量。将sCMOS作为探测器并采用滚动快门工作模式实现共焦狭缝探测。飞秒激光脉冲经扫描振镜...
该专利属于哈尔滨工业大学所有,仅供学习研究参考,未经过哈尔滨工业大学授权不得商用。
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