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本实用新型公开了一种半导体测试治具，包括后侧圆板，所述后侧圆板前侧面设有内侧圆环，内侧圆环外侧面的左侧和左侧弧形板的弧内侧滑动连接，内侧圆环外侧面的右侧和右侧弧形板的弧内侧滑动连接，左侧弧形板的后侧面和右侧弧形板的后侧面均与后侧圆板的前侧面...
该专利属于贵阳学院所有，仅供学习研究参考，未经过贵阳学院授权不得商用。

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