下载一种FDSOI可控硅静电保护器件的技术资料

文档序号:21093616

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本发明公开了一种内嵌GGNMOS和GDPMOS的FDSOI可控硅静电保护器件,包括N阱和P阱,N阱和P阱邻接,N阱内设有第一P+注入区,P阱内设有第一N+注入区,N阱与P阱的交界处嵌设有第二P+注入区和第二N+注入区。基于FDSOI的全介质...
该专利属于中国电子科技集团公司第四十八研究所所有,仅供学习研究参考,未经过中国电子科技集团公司第四十八研究所授权不得商用。

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