温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。

本发明公开一种选择最佳NAND Flash读操作电平的方法，将NAND Flash读操作特性测试与机器学习的线性回归算法相结合，挖掘出最佳NAND Flash存储器读操作电平与NAND Flash存储器数据稳定性影响因素(PE、Retent...
该专利属于山东华芯半导体有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过山东华芯半导体有限公司授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。