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本发明提供一种利用角度调谐测量F‑P标准具参数的装置与方法，该装置包括激光器、扩束镜、第一分光镜、第二分光镜、第一探测器、波长计、小孔光阑、第二探测器和旋转台；激光器发出的激光通过扩束镜后发射到第一分光镜；第一分光镜将激光分为两束；一束激光...
该专利属于中国科学院合肥物质科学研究院所有，仅供学习研究参考，未经过中国科学院合肥物质科学研究院授权不得商用。

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