一种利用角度调谐测量F-P标准具参数的装置与方法制造方法及图纸

本发明专利技术提供一种利用角度调谐测量F‑P标准具参数的装置与方法，该装置包括激光器、扩束镜、第一分光镜、第二分光镜、第一探测器、波长计、小孔光阑、第二探测器和旋转台；激光器发出的激光通过扩束镜后发射到第一分光镜；第一分光镜将激光分为两束；一束激光通过小孔光阑入射至设置于旋转台上的F‑P标准具，该束激光透过F‑P标准具入射至第二探测器；另一束激光入射至第二分光镜，第二分光镜将该束激光分为两束，一束入射至波长计，另一束入射至第一探测器。本发明专利技术采用调谐激光在F‑P标准具上入射光角度的方法来测量标准具的透过率曲线和自由光谱范围，大大降低了检测具有纳米量级自由光谱范围的标准具的成本，有非常大的理论与应用价值。

A device and method for measuring parameters of F-P etalon by angle tuning

【技术实现步骤摘要】
一种利用角度调谐测量F-P标准具参数的装置与方法
本专利技术涉及F-P标准具参数测量领域，尤其是涉及一种利用角度调谐测量F-P标准具参数的装置与方法。
技术介绍
F-P标准具：法布里-珀罗(Fabry-Parot)标准具是主要由两块平板玻璃或石英板构成的一种干涉仪。两块板朝里的表面或石英板两个光学面各镀有特定反射率的光学反射膜层，并且相互平行；两个光学镀膜面之间形成一平行光学腔。光在这两个镀膜面之间的腔中反复反射，形成多光束的等倾干涉圆环。Fabry-Parot标准具是一种应用广泛的高分辨干涉分光仪器。可用于高分辨光谱学，和研究波长非常靠近的谱线，诸如元素的同位素光谱、光谱的超精细结构、光散射时微小的频移，原子移动引起的谱线多普勒位移，和谱线内部的结构形状；也可用作高分辨光学滤波器、构造精密波长计；在激光系统中它经常用于腔内压窄谱线或使激光系统单模运行，可作为宽带皮秒激光器中带宽控制以及调谐器件，分析、检测激光中的光谱(纵模、横模)成分。介于FP标准具非常广泛的应用，F-P标准的透过率曲线和自由光谱范围是非常重要的参数。一般F-P标准具通过调谐激光光源的波长来测量标准具的透过率曲线和本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种利用角度调谐测量F‑P标准具参数的装置，其特征在于，该装置包括激光器、扩束镜、第一分光镜、第二分光镜、第一探测器、波长计、小孔光阑、第二探测器和旋转台；所述激光器发出的激光通过扩束镜后发射到第一分光镜；所述第一分光镜将激光分为两束；一束激光通过小孔光阑入射至设置于旋转台上的F‑P标准具，该束激光透过F‑P标准具入射至第二探测器；另一束激光入射至第二分光镜，第二分光镜将该束激光分为两束，一束入射至波长计，另一束入射至第一探测器。

【技术特征摘要】
1.一种利用角度调谐测量F-P标准具参数的装置，其特征在于，该装置包括激光器、扩束镜、第一分光镜、第二分光镜、第一探测器、波长计、小孔光阑、第二探测器和旋转台；所述激光器发出的激光通过扩束镜后发射到第一分光镜；所述第一分光镜将激光分为两束；一束激光通过小孔光阑入射至设置于旋转台上的F-P标准具，该束激光透过F-P标准具入射至第二探测器；另一束激光入射至第二分光镜，第二分光镜将该束激光分为两束，一束入射至波长计，另一束入射至第一探测器。2.根据权利要求1所述的一种利用角度调谐测量F-P标准具参数的装置，其特征在于，在激光器和扩束镜之间设有斩波器。3.一种利用角度调谐测量F-P标准具参数的方法，其特征在于，该方法采用波长确定的单色平行光作为入射光，通过调节其入射到F-P标准具上的入射角度，来控制F-P标准具中心波长蓝移，从而实现对F-P标准具光谱透过率曲线和自由光谱范围的扫描测量。4.根据权利要求3所述的一种利用角度调谐测量F-P标准具参数的方法，其特征在于，该方法具体包括步骤：(1)将F-P标准具移出测量光路，利用第一探测器、第二探测器分别测量参考光束和测量光束的能量，记录两个探测器的输出的信号和背景信号；(2)将F-P标准具移入测量光路，调整F-P标准具使得光束垂直入射到F-P标准具中，利用旋转台带动F-P标准具旋转，从而改变光束入射到F-P标...

【专利技术属性】
技术研发人员：吴德成，王邦新，刘东，王英俭，储玉飞，王珍珠，谢晨波，钟志庆，邢昆明，
申请(专利权)人：中国科学院合肥物质科学研究院，
类型：发明
国别省市：安徽,34