下载一种多芯片混合功率运放结壳热阻测试方法的技术资料

文档序号:21031934

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本发明提出一种多芯片混合功率运放结壳热阻测试方法,首先确定待测多芯片混合功率运放加热管脚以及热敏二极管;对N个芯片中的第i个芯片通加热电流使多芯片器件发热至热平衡状态,再分别对所有芯片接通测试电流;测得此时所有芯片各自的第i结壳热阻,其用R...
该专利属于贵州航天计量测试技术研究所所有,仅供学习研究参考,未经过贵州航天计量测试技术研究所授权不得商用。

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