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本发明公开了一种基于深度卷积神经网络的压敏电阻外观缺陷检测方法，包括以下步骤：S1：采集压敏电阻图像，制作所需要的数据集；S2：设计用于识别压敏电阻外观缺陷的深度卷积神经网络模型；S3：利用所述数据集对设计的深度卷积神经网络模型进行训练和验...
该专利属于桂林理工大学所有，仅供学习研究参考，未经过桂林理工大学授权不得商用。

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