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本实用新型公开了一种芯片测试座。所述芯片测试座包括底座和顶盖，所述底座和所述顶盖固定连接，所述顶盖上设有芯片容纳槽，所述底座上设置有第一凹槽、第二凹槽以及若干插孔，所述插孔内设置有上述的S型连接器，所述的S型连接器在所述插孔内可沿底座上下方...
该专利属于深圳市鸿义通仪测有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过深圳市鸿义通仪测有限公司授权不得商用。

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