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本发明涉及一种基于激光诱导击穿光谱的铝电解质分子比检测方法。该方法在对分析样本破坏量很小的情况下对已知分子比的工业铝电解质样本进行光谱数据采集，根据得到的光谱谱线，建立分子比倒数与电解质内指定元素特征光谱谱线的回归模型，然后对待测样品进行检...
该专利属于中国科学院沈阳自动化研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国科学院沈阳自动化研究所授权不得商用。

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