一种基于激光诱导击穿光谱的铝电解质分子比检测方法技术

本发明专利技术涉及一种基于激光诱导击穿光谱的铝电解质分子比检测方法。该方法在对分析样本破坏量很小的情况下对已知分子比的工业铝电解质样本进行光谱数据采集，根据得到的光谱谱线，建立分子比倒数与电解质内指定元素特征光谱谱线的回归模型，然后对待测样品进行检测，得出LIBS光谱谱线后，根据分析模型推算出电解质分子比。此方法巧妙的利用了铝电解质中分子比与LIBS元素光谱谱线的回归关系，充分利用LIBS光谱技术谱线丰富的优势。相对于目前传统的荧光光谱分析法，此方法具有分析速度快，重复性强，检测精度高，成本低的优点。

A Molecular Ratio Detection Method for Aluminum Electrolyte Based on Laser Induced Breakdown Spectrum

The present invention relates to a method for detecting molecule ratio of aluminium electrolyte based on laser induced breakdown spectroscopy. This method collects the spectral data of industrial aluminium electrolyte samples with known molecular ratios when the destructive amount of analytical samples is very small. According to the obtained spectral lines, a regression model between reciprocal molecular ratios and characteristic spectral lines of specified elements in electrolyte is established. Then, the LIBS spectral lines of the tested samples are detected, and the electrolyte molecular ratios are calculated according to the analytical model. \u3002 This method ingeniously utilizes the regression relationship between molecular ratio and LIBS spectral lines in aluminium electrolyte, and makes full use of the advantages of LIBS spectral technology. Compared with the traditional fluorescence spectrometry, this method has the advantages of fast analysis speed, strong repeatability, high detection accuracy and low cost.

【技术实现步骤摘要】
一种基于激光诱导击穿光谱的铝电解质分子比检测方法
本专利技术属于光谱分析领域，具体的说是一种基于激光诱导击穿光谱的铝电解质分子比检测方法。
技术介绍
电解铝工业生产中把氟化钠对氟化铝的摩尔数之比称为分子比，分子比是铝电解操作参数中一项重要的技术指标之一。随着生产的发展，为改善铝电解质的物理化学性质，人们往铝电解质中加入各种添加剂，因此电解质的组成变得越来越复杂。分子比的高低不但直接影响生产过程的电流效率，而且还与加工周期，下料制度和环境污染有关，所以对电解质分子比的分析历来都受到铝电解厂的高度重视。由于铝电解行业现场强磁场的特殊性，目前尚无对分子比参数在线检测的方式，只能靠人工取样分析。目前常用的检测技术为荧光光谱分析法，通过全部元素的测量推算出分子比。此方法的缺点是采样制样代表性差，分析速度慢，工序繁琐，成本极高。由于上述劣势，导致一般常规的铝电解质分子比参数分析几天才能检测一次，极大的影响了生产效率。铝电解行业，急需一种精度高，分析速度快，成本低的电解质分子比检测方法。近年来，LIBS技术由于具有无需样片处理，灵敏度高，分析速度极快，可以同时对多元素进行非接触式测量的优点，成为一本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种基于激光诱导击穿光谱的铝电解质分子比检测方法，其特征在于，包括以下步骤：步骤一：采用激光诱导击穿光谱方法获取被测物体组成元素的光谱数据；步骤二：通过对已知分子比的电解质参考样品建立分子比倒数与光谱强度比之间的回归模型；步骤三：将获取的被测物体组成元素的光谱数据代入步骤2所获得的回归模型，计算电解质分子比的倒数，进而获得电解质分子比。

【技术特征摘要】
1.一种基于激光诱导击穿光谱的铝电解质分子比检测方法，其特征在于，包括以下步骤：步骤一：采用激光诱导击穿光谱方法获取被测物体组成元素的光谱数据；步骤二：通过对已知分子比的电解质参考样品建立分子比倒数与光谱强度比之间的回归模型；步骤三：将获取的被测物体组成元素的光谱数据代入步骤2所获得的回归模型，计算电解质分子比的倒数，进而获得电解质分子比。2.按照权利要求1所述一种基于激光诱导击穿光谱的铝电解质分子比检测方法，其特征在于，所述光谱数据包括元素的特征谱线强度、谱线位置。3.按照权利要求1所述一种基于激光诱导击穿光谱的铝电解质分子比检测方法，其特征在于，所述步骤一包括：通过脉冲激光器发射高功率脉冲激光，利用透镜组会聚激光束使得会聚后的光斑照射到被测物体上，微量被测物体被击穿并产生等离子体，对等离子体发射光进行收集、分光和光电转换，进而得到被测物体组成元素的光谱数据。4.按照权利要求1所述一种基于激光诱导击穿光谱的铝电解...

【专利技术属性】
技术研发人员：孙兰香，于海斌，丛智博，曾鹏，
申请(专利权)人：中国科学院沈阳自动化研究所，
类型：发明
国别省市：辽宁,21