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本发明涉及用于具有共模电流源的一次可编程存储器(OTPM)阵列的裕度测试。本公开涉及一种包括电流镜控制节点的结构，该电流镜控制节点被配置为调节电流裕度并将调节后的电流裕度提供给至少一个一次可编程存储器(OTPM)单元。...
该专利属于格芯公司所有，仅供学习研究参考，未经过格芯公司授权不得商用。

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