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本公开提供了一种宽温度范围放射源激发闪烁晶体荧光测量系统及方法，其中测量系统包括：制冷机、放射源和PMT测试系统；制冷机包括冷台、低温腔室、温度控制器和温度探头；冷台置于制冷机机体上部，待测晶体样品放置于冷台上，低温腔室罩设在冷台外部；温度...
该专利属于中国科学技术大学所有，仅供学习研究参考，未经过中国科学技术大学授权不得商用。

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