宽温度范围放射源激发闪烁晶体荧光测量系统及方法技术方案

本公开提供了一种宽温度范围放射源激发闪烁晶体荧光测量系统及方法，其中测量系统包括：制冷机、放射源和PMT测试系统；制冷机包括冷台、低温腔室、温度控制器和温度探头；冷台置于制冷机机体上部，待测晶体样品放置于冷台上，低温腔室罩设在冷台外部；温度控制器用于调整制冷机制冷温度，使冷台温度满足待测晶体样品所需温度；第一温度探头与冷台相连，第二温度探头与待测晶体样品表面相连，第三温度探头与PMT测试系统相连，紧贴在PMT测试系统伸进低温腔室的光阴极玻璃管壁侧面；PMT测试系统的光阴极负责收集待测晶体样品的闪烁荧光，并将收集到的光信号转化为电信号，输出至PC端。本公开中PMT测试系统深入制冷机的低温腔室利于提高荧光收集效率。

【技术实现步骤摘要】
宽温度范围放射源激发闪烁晶体荧光测量系统及方法
本公开涉及高能物理粒子探测领域，尤其涉及一种宽温度范围放射源激发闪烁晶体荧光测量系统及方法。
技术介绍
闪烁晶体探测器在高能物理粒子实验被广泛应用于飞行时间探测器、电磁及强子量能器中，其荧光产额和衰减时间是非常重要的两个参数。当射线穿过闪烁晶体时，会激发介质原子的核外电子。当电子退激发后，会向外辐射光子。在不同温度下，闪烁晶体对每单位能量沉积产生的光子数目响应不同。欧洲核子中心的大型强子对撞机上的CMS实验采用PbWO4晶体作为电磁量能器，实验中选择降低晶体工作温度点以提高荧光产额。近年来逐渐兴起的闪烁晶体型低温微量热器就是依托于在低温环境下闪烁晶体对放射性粒子(电子反冲型和核反冲型粒子)的不同响应，提高粒子鉴别能力。因此晶体在不同温度下的荧光特性测量显得尤为重要。
技术实现思路
(一)要解决的技术问题本公开提供了一种宽温度范围放射源激发闪烁晶体荧光测量系统及方法，以至少部分解决以上所提出的技术问题。(二)技术方案根据本公开的一个方面，提供了一种宽温度范围放射源激发闪烁晶体荧光测量系统包括：制冷机，所述制冷机包括：机体；冷台，设置于所述机体本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种宽温度范围放射源激发闪烁晶体荧光测量系统，包括：制冷机，所述制冷机包括：机体；冷台，设置于所述机体上部；待测晶体样品放置于所述冷台上；低温腔室，罩设在所述冷台外部；温度控制器，用于调整所述制冷机的制冷温度，满足所述待测晶体样品所需测试温度；放射源，用于激发所述待测晶体样品闪烁荧光；第一温度探头，与所述冷台相连，探测所述冷台温度；第二温度探头，与所述待测样品相连，探测所述待测晶体样品的表面温度；第三温度探头；PMT测试系统，所述PMT测试系统的光阴极玻璃管壁与所述第三温度探头相连，通过所述第三温度探头探测所述PMT测试系统的温度；所述PMT测试系统的光阴极伸入所述低温腔室，收集待测晶体样...

【技术特征摘要】
1.一种宽温度范围放射源激发闪烁晶体荧光测量系统，包括：制冷机，所述制冷机包括：机体；冷台，设置于所述机体上部；待测晶体样品放置于所述冷台上；低温腔室，罩设在所述冷台外部；温度控制器，用于调整所述制冷机的制冷温度，满足所述待测晶体样品所需测试温度；放射源，用于激发所述待测晶体样品闪烁荧光；第一温度探头，与所述冷台相连，探测所述冷台温度；第二温度探头，与所述待测样品相连，探测所述待测晶体样品的表面温度；第三温度探头；PMT测试系统，所述PMT测试系统的光阴极玻璃管壁与所述第三温度探头相连，通过所述第三温度探头探测所述PMT测试系统的温度；所述PMT测试系统的光阴极伸入所述低温腔室，收集待测晶体样品闪烁的荧光，通过所述PMT测试系统将收集荧光的光信号转化为电信号，输出至PC端。2.根据权利要求1所述的宽温度范围放射源激发闪烁晶体荧光测量系统，其中，还包括：NIM插件放大器，将PMT测试系统收集的信号放大处理；NIM插件放大成形器，将通过NIM插件放大器处理的放大信号成形处理；NIM插件多道分析器，对NIM插件放大成形器输出的信号进行分析。3.根据权利要求1所述的宽温度范围放射源激发闪烁晶体荧光测量系统，其中，还包括：示波器，对通过所述PMT测试系统转化的电信号进行分析。4.根据权利要求1所述的宽温度范围放射源激发闪烁晶体荧光测量系统，其中，所述低温腔室设置有窗口，所述放射源设置在所述低温腔室设置有窗口的腔室内壁上；所述的窗口的位置与晶体处在同一水平位置，距离待测晶体样品1-2cm。5.根据权利要求4所述的宽温度范围放射源激发闪烁晶体...

【专利技术属性】
技术研发人员：薛明萱，张云龙，文思成，彭海平，张志永，魏逸丰，许咨宗，汪晓莲，
申请(专利权)人：中国科学技术大学，
类型：发明
国别省市：安徽,34