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本发明公开了一种高速ADC信号减少噪声的采集方法，在测试芯片的测试板上单独安装满足要求的晶振，用低抖动的晶振作为系统时钟采集数据，不使用测试机内部的时钟，采集到准确的值送给测试机；本发明提供的高速ADC信号减少噪声的采集方法，解决在测试高速...
该专利属于上海华岭集成电路技术股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过上海华岭集成电路技术股份有限公司授权不得商用。

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