温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。

本发明提供一种判定少层二维纳米材料晶向的方法，包括以下步骤：提供机械剥离的少层二维纳米材料；通过光学显微镜观察所述少层二维纳米材料，寻找所述少层二维纳米材料中夹角为60°或120°的相邻的两个断裂边缘；以及判断所述断裂边缘的方向为所述少层二...
该专利属于清华大学所有，仅供学习研究参考，未经过清华大学授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。