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本发明提供一种测量坐标校正方法和系统,所述方法包括:获取测量系统的物理测量模块对应的测试区域的测量范围和所述测量范围几何中心的坐标;根据获取的所述物理测量模块的测量范围的几何中心坐标对测量系统的光学镜头进行校正;采用校正后的光学镜头获取待测...该专利属于深圳市华星光电半导体显示技术有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过深圳市华星光电半导体显示技术有限公司授权不得商用。
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