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基于难测路径选择的集成电路检测方法和系统技术方案
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下载基于难测路径选择的集成电路检测方法和系统的技术资料
文档序号:20763532
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本发明提出一种集成电路难测路径的选择方法。本发明包括:利用动静态协同分析,计算和校准逻辑值为0或为1的概率;根据所计算概率,从输出向输入方向寻找跳变沿传输概率小的路径;为所选路径生成测试向量,判断路径有效性。本发明通过动静态协同分析方法提高...
该专利属于中国科学院计算技术研究所所有,仅供学习研究参考,未经过中国科学院计算技术研究所授权不得商用。
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