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一种基于随机场测度的相控阵天线电性能分析方法技术
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文档序号:20763396
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本发明公开了一种基于随机场测度的相控阵天线电性能分析方法,其实现步骤需首先确定相控阵天线单元的分布情况,得到相控阵的电性能与天线单元位置相关的计算公式;通过阵面的若干组变形量的统计数据,计算求得阵面变形随机场的基本参数;而后利用K‑L展开对...
该专利属于湖南大学所有,仅供学习研究参考,未经过湖南大学授权不得商用。
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