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提供了一种方法，该方法用于在多个不同温度对被分成第一子组和第二子组的一组半导体进行连续的单个插入半导体测试。该单个插入半导体测试通过顺序地执行测试循环来进行，其特征在于，测试机为所述第一子组交替地执行温度测试周期和温度斜坡变化周期，且同时为...
该专利属于塞勒林特有限责任公司所有，仅供学习研究参考，未经过塞勒林特有限责任公司授权不得商用。

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