温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。

本文描述了一种用于测试电子器件的装置的测试头的接触探针(20)，该接触探针包括探针主体(20C)，该探针主体(20C)在适于实现与相应接触垫接触的相应端部(20A，20B)之间沿纵向延伸，至少一个端部(20B)的横向尺寸大于所述探针主体(2...
该专利属于泰克诺探头公司所有，仅供学习研究参考，未经过泰克诺探头公司授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。