下载判断缺陷叠图聚集的方法及其系统的技术资料

文档序号:20682040

温馨提示:您尚未登录,请点 登陆 后下载,如果您还没有账户请点 注册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。

本申请公开一种判断缺陷叠图聚集的方法及其系统,通过自动化的方法筛选出缺陷叠图中的缺陷群,判断缺陷叠图中是否存在缺陷数目大于第一预设值的缺陷群,从而判断缺陷叠图是否存在聚集,相对于人工观察缺陷叠图是否聚集,本申请发现缺陷叠图聚集现象的速度更快...
该专利属于深圳市华星光电半导体显示技术有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过深圳市华星光电半导体显示技术有限公司授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示:您尚未登录,请点 登陆 后下载,如果您还没有账户请点 注册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。