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一种实时监测钙钛矿薄膜成膜质量的设备及其监测方法技术
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下载一种实时监测钙钛矿薄膜成膜质量的设备及其监测方法的技术资料
文档序号:20656303
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本发明涉及一种实时监测钙钛矿薄膜成膜质量的设备,包括X射线衍射监测装置以及分析统计系统,X射线衍射监测装置包括滑动轨道、测角仪圆环、X射线发射装置、X射线接收装置及计步器、测量记录系统,X射线发射装置发射的X射线投射到钙钛矿太阳能电池基片表...
该专利属于杭州纤纳光电科技有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过杭州纤纳光电科技有限公司授权不得商用。
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