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含轴孔间隙关节的平面多关节机构的轴孔轨迹测量方法技术
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文档序号:20652679
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本发明公开了一种含轴孔间隙关节的平面多关节机构的轴孔轨迹测量方法,使用了平面多关节机构、计算机、CCD相机、视觉主动标志点、三坐标测量仪等辅助设备,测量前准备包含测量对象和视觉配套,测量的对象是位于平面多关节机构上的多个含轴孔间隙关节,视觉...
该专利属于华南理工大学所有,仅供学习研究参考,未经过华南理工大学授权不得商用。
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