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本公开提供了一种场景监控式毫米波扫描成像系统，包括适于定位在一安检场景中的多个毫米波扫描成像装置，所述多个毫米波扫描成像装置被布置成分别朝向不同的方位定向，以分别对该安检场景中的不同检测区域内的待检目标进行毫米波扫描成像并提供该目标的扫描数...
该专利属于清华大学;同方威视技术股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过清华大学;同方威视技术股份有限公司授权不得商用。

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