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本发明涉及测试技术领域，公开一种芯片测试装置，包括测试座组件、加热组件、测温组件和控制器，其中，测试座组件包括固定板组件和导通件；加热组件部分设置在固定板组件中；测温组件可滑动地穿设在加热组件中，且能够与芯片相接触以测量芯片的温度；外设控制...
该专利属于上海捷策创电子科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过上海捷策创电子科技有限公司授权不得商用。

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