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本发明提供了一种分辨含铀微粒、含钚微粒的方法。该方法包括以下步骤：步骤一：制备含微粒薄膜；步骤二：使α粒子固体径迹探测器受到α粒子的辐照；步骤三：对α粒子固体径迹探测器进行蚀刻，采集径迹星图像；步骤四：测量各迹轮廓远离径迹星中心一端的曲率半...
该专利属于中国原子能科学研究院所有，仅供学习研究参考，未经过中国原子能科学研究院授权不得商用。

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