分辨含铀微粒、含钚微粒的方法技术

本发明专利技术提供了一种分辨含铀微粒、含钚微粒的方法。该方法包括以下步骤：步骤一：制备含微粒薄膜；步骤二：使α粒子固体径迹探测器受到α粒子的辐照；步骤三：对α粒子固体径迹探测器进行蚀刻，采集径迹星图像；步骤四：测量各迹轮廓远离径迹星中心一端的曲率半径；步骤五：根据曲率半径的平均值大小将各径迹星分为两组，分辨各径迹星所属微粒类型；步骤六：根据相对位置分辨出含微粒薄膜上的含铀微粒和含钚微粒。本发明专利技术的方法能够有效分辨样品中含铀微粒和含钚微粒，摆脱了以往对昂贵固定分析设备的依赖，其应用方便灵活，便于微粒的现场分辨，操作较为简单，成本低廉。

Method for distinguishing uranium-containing particles and plutonium-containing particles

The invention provides a method for distinguishing uranium-containing particles and plutonium-containing particles. The method includes the following steps: first step: preparation of thin film containing particles; second step: irradiation of alpha particle solid track detector by alpha particle; third step: etching of alpha particle solid track detector and acquisition of track star image; fourth step: measuring the curvature radius of each track profile far from the center of track star; fifth step: according to the average value of curvature radius, each track will be etched by alpha particle solid track detector. Track stars are divided into two groups to distinguish the type of particles belonging to each track star. Step 6: According to the relative position, the uranium and plutonium particles on the film containing particles can be distinguished. The method of the invention can effectively distinguish uranium-containing particles and plutonium-containing particles in samples, and breaks away from the dependence on expensive fixed analytical equipment in the past. The method has the advantages of convenient and flexible application, easy field resolution of particles, simple operation and low cost.

【技术实现步骤摘要】
分辨含铀微粒、含钚微粒的方法
本专利技术属于核保障领域，特别涉及一种分辨含铀微粒、含钚微粒的方法。
技术介绍
在核保障领域，微粒分析是一种重要的检测手段，其通过对擦拭样品中的含铀微粒、含钚微粒进行分析以实现有关检测，其中对含铀微粒、含钚微粒的分辨是必须解决的问题。目前，对含铀微粒、含钚微粒的分辨可以采用的方法主要有两种。一种是将样品用反应堆辐照，获取微粒产生的裂变径迹，然后采用裂变径迹分析设备(如：裂变径迹探测器)进行进一步分析，从而实现含铀微粒、含钚微粒的分辨。另一种是在二次离子质谱仪上配备微粒自动寻找软件，利用二次离子质谱仪的成像模式对样品各区域进行扫描，从而实现含铀微粒、含钚微粒的分辨。然而，上述两种方法均需要依赖反应堆或二次离子质谱仪等昂贵的固定分析设备，存在成本高昂，操作复杂，灵活性较差，无法实现现场分辨等问题。
技术实现思路
为解决目前微粒分析中含铀微粒、含钚微粒的分辨成本高昂，操作复杂，灵活性较差，无法实现现场分辨等问题，本专利技术提供了一种分辨含铀微粒、含钚微粒的方法。该方法包括以下步骤：步骤一：制备含微粒薄膜，所述含微粒薄膜含有含铀微粒和含钚微粒；步骤二：将α粒子固体径本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种分辨含铀微粒、含钚微粒的方法，其特征在于该方法包括以下步骤：步骤一：制备含微粒薄膜，所述含微粒薄膜含有含铀微粒和含钚微粒；步骤二：将α粒子固体径迹探测器覆盖在所述含微粒薄膜表面，使所述α粒子固体径迹探测器受到所述含铀微粒和所述含钚微粒发射的α粒子的辐照，同时标记所述α粒子固体径迹探测器与所述含微粒有机薄膜的相对位置；步骤三：对所述α粒子固体径迹探测器进行蚀刻，使所述α粒子固体径迹探测器表面形成若干径迹星，采集各径迹星的图像；步骤四：从所述图像上测量每个径迹星的各径迹轮廓远离径迹星中心一端的曲率半径，获得每个径迹星的所述曲率半径的平均值；步骤五：根据各径迹星的所述曲率半径的平均值大小将各...

【技术特征摘要】
1.一种分辨含铀微粒、含钚微粒的方法，其特征在于该方法包括以下步骤：步骤一：制备含微粒薄膜，所述含微粒薄膜含有含铀微粒和含钚微粒；步骤二：将α粒子固体径迹探测器覆盖在所述含微粒薄膜表面，使所述α粒子固体径迹探测器受到所述含铀微粒和所述含钚微粒发射的α粒子的辐照，同时标记所述α粒子固体径迹探测器与所述含微粒有机薄膜的相对位置；步骤三：对所述α粒子固体径迹探测器进行蚀刻，使所述α粒子固体径迹探测器表面形成若干径迹星，采集各径迹星的图像；步骤四：从所述图像上测量每个径迹星的各径迹轮廓远离径迹星中心一端的曲率半径，获得每个径迹星的所述曲率半径的平均值；步骤五：根据各径迹星的所述曲率半径的平均值大小将各径迹星分为两组，所述曲率半径的平均值大的一组径迹星为含铀微粒产生的径迹星，所述曲率半径的平均值小的一组径迹星为含钚微粒产生的径迹星；步骤六：根据所述α粒子固体径迹探测器与所...

【专利技术属性】
技术研发人员：王琛，常志远，郭士伦，刘国荣，李力力，赵永刚，
申请(专利权)人：中国原子能科学研究院，
类型：发明
国别省市：北京,11