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本发明提供一种逻辑扫描老化测试系统。所述系统包括测试访问端口、多个控制器以及与每个控制器对应的模块内部老化测试相关控制电路，其中，所述测试访问端口为状态控制器，与每个控制器连接，用于控制捕获、移位或更新状态的跳转；所述控制器，与所对应的模块...该专利属于中科曙光信息产业成都有限公司;成都海光集成电路设计有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过中科曙光信息产业成都有限公司;成都海光集成电路设计有限公司授权不得商用。