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本发明涉及用于测试电子元件的处理器。根据本发明的用于测试电子元件的处理器中，将从测试室传送到除热室的测试托盘的输送通道分为第一区域和长度短于第一区域的第二区域，在打开第一区域之前，能够使设置于第二输送装置的把持构件的把持部位预先通过第二区域...
该专利属于泰克元有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过泰克元有限公司授权不得商用。

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