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本发明公开了一种改进的Z扫描装置。利用本发明装置对不同的待测样品进行预扫描可以自动确定对应待测样品最优的测量光强。在此最优测量光强下可以有效的避免：(1)因测量光强过强导致的高阶非线性光学效应的影响；(2)因光测量强过弱导致的噪声信号相对过...
该专利属于江苏大学所有，仅供学习研究参考，未经过江苏大学授权不得商用。

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