一种改进的Z扫描装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种改进的Z扫描装置。利用本发明专利技术装置对不同的待测样品进行预扫描可以自动确定对应待测样品最优的测量光强。在此最优测量光强下可以有效的避免：(1)因测量光强过强导致的高阶非线性光学效应的影响；(2)因光测量强过弱导致的噪声信号相对过大带来的影响，从而使得测量结果准确可靠。在装置中设置多个反射镜及小孔光阑，对入射光束进行整形。在装置中添加了相应的器件来监测测量过程中所遇到的激光器能量波动、激光器锁模不稳、样品击穿等所产生的影响，添加了相应的器件来避免测量过程中所遇到的热效应和偏振态的影响。在此基础上本装置还可以实现入射光源可更换、偏振态可调节、闭孔数据和开孔数据同时测量等功能。

【技术实现步骤摘要】
一种改进的Z扫描装置
本专利技术涉及一种改进的Z扫描装置，属于非线性光学和光学检测领域。
技术介绍
材料的三阶光学非线性使得折射率和吸收系数与光强不再成线性比例，利用该特殊性质，可实现双光子光谱，高分辨荧光显微，光动力疗法，上转换激光，微纳制造，三维光学数据存储，光限幅等诸多应用。近几十年来得到长足的发展。特别是近些年来基于非线性光学的新技术和新应用的出现大大推动了该领域的发展。利用材料的非线性效应，对非线性光学参数的测量非常关键。传统测量光学非线性方法有：非线性干涉、简并四波混频、近简并三波混频、椭偏技术和光束畸变测量等。前四种方法测量灵敏度高，但是不能测量非线性折射率的符号，而且测量装置非常复杂，实现起来比较困难。1990年，由M.Sheik-Bahae等人首先提出来的单光束Z扫描技术具有装置简单、测量灵敏度较高等优点，可以探测到λ/300的波前畸变，而且这种方法可同时测量三阶非线性折射率和非线性吸收系数的大小与符号(参见SHEIK-BAHAE,M.；SAID,A.A.；WEI，T.H.；HAGAN,D.J.；STRYLAND,E.W.V.，Sensitivemeasuremen本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种改进的Z扫描装置，其特征在于，包括：输出激光波长λ的激光器(1)，沿所述的激光器(1)的激光输出的主光路构成的主光轴依次是第一小孔光阑(2)、第一反射镜(3)、第二反射镜(4)、第三反射镜(5)、第四反射镜(6)、第五反射镜(7)、第六反射镜(8)、第七反射镜(9)、第八反射镜(10)、第九反射镜(11)、第十反射镜(12)、第十一反射镜(13)、第十二反射镜(14)、第二小孔光阑(15)、斩波器(16)、第一偏振片(17)、第二偏振片(18)、第一激光分光镜(19)、第二激光分光镜(20)、电控激光衰减片(21)、第一汇聚透镜(22)、待测样品(23)、第三激光分光镜(24)、第三小...

【技术特征摘要】
1.一种改进的Z扫描装置，其特征在于，包括：输出激光波长λ的激光器(1)，沿所述的激光器(1)的激光输出的主光路构成的主光轴依次是第一小孔光阑(2)、第一反射镜(3)、第二反射镜(4)、第三反射镜(5)、第四反射镜(6)、第五反射镜(7)、第六反射镜(8)、第七反射镜(9)、第八反射镜(10)、第九反射镜(11)、第十反射镜(12)、第十一反射镜(13)、第十二反射镜(14)、第二小孔光阑(15)、斩波器(16)、第一偏振片(17)、第二偏振片(18)、第一激光分光镜(19)、第二激光分光镜(20)、电控激光衰减片(21)、第一汇聚透镜(22)、待测样品(23)、第三激光分光镜(24)、第三小孔光阑(25)、第二汇聚透镜(26)、第一可调衰减片(27)、光电倍增管(28)；所述的光电倍增管(28)与计算机(38)相连；所述的第一激光分光镜(19)与主光轴成45°，在所述的第一分光镜(19)的反射光输出方向设置第一光电探测器(29)，所述的第一光电探测器(29)与示波器(39)相连，所述的示波器(39)与计算机(38)相连；所述的第二激光分光镜(20)与主光轴成45°，在所述的第二分光镜(20)的反射光输出方向设置第二光电探测器(30)，所述的第二光电探测器(30)与计算机(38)相连；所述的电控激光衰减片(21)与衰减片控制器(31)相连，所述的衰减片控制器(31)与计算机(38)相连；在待测样品附近设置光学多道分析仪探头，所述的光学多道分析仪探头(32)与光学多道分析仪(33...

【专利技术属性】
技术研发人员：周志强，丛嘉伟，黄艳丽，佟艳群，姚红兵，符永宏，任乃飞，
申请(专利权)人：江苏大学，
类型：发明
国别省市：江苏,32