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本发明涉及一种污染颗粒观察及测试装置及分析方法，装置包括：光学成像设备、照明设备、偏振设备、定位设备、检测设备、处理显示设备、固定设备、动力输出设备，偏振设备包括电子调整设备。照明设备、对颗粒积聚物的至少一部分进行照明，形成照明测量区域，照...
该专利属于阅美测量系统（上海）有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过阅美测量系统（上海）有限公司授权不得商用。

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