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本发明公开了一种IC芯片测试系统和方法，用以解决无法快速准确地确定出IC芯片当前进入的测试模式的问题。系统包括：测试机台，时钟模块和控制模块；控制模块分别与时钟模块和测试机台连接；测试机台根据每种测试模式对应的信息，确定IC芯片当前进入的目...
该专利属于珠海格力电器股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过珠海格力电器股份有限公司授权不得商用。

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