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本发明公开了一种用于W波段辐射计目标辐射特性的测试系统，包括：交流电源(1)、直流电源(2)、控制计算机(3)、转台控制单元(5)、二维转台(6)、反射面天线(7)和毫米波辐射计(8)，其中，显控模块(4)运行在控制计算机(3)上。测试系统...
该专利属于北京遥感设备研究所所有，仅供学习研究参考，未经过北京遥感设备研究所授权不得商用。

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