一种用于W波段辐射计目标辐射特性的测试系统技术方案

本发明专利技术公开了一种用于W波段辐射计目标辐射特性的测试系统，包括：交流电源(1)、直流电源(2)、控制计算机(3)、转台控制单元(5)、二维转台(6)、反射面天线(7)和毫米波辐射计(8)，其中，显控模块(4)运行在控制计算机(3)上。测试系统工作时，交流电源(1)给各设备供电，待毫米波辐射计(8)工作状态稳定后，再进行正常的测试流程。显控模块(4)接收到该点的波辐射计采集电压信号后，将该采集电压信号与此时转台的空间方位坐标打包存储于数据库中；完成全部需要采集的二维图像数据库建立，存储于控制计算机(3)中，同时在显控模块(4)中画图显示。本发明专利技术具有设备简单，操作简便、成本低等优点。

【技术实现步骤摘要】
一种用于W波段辐射计目标辐射特性的测试系统
本专利技术涉及一种测试系统，特别是一种用于W波段辐射计目标辐射特性的测试系统。
技术介绍
单一辐射计只能对指向点反馈温度信号，若要使用辐射计在二维平面内成像，目前主要使用多个辐射计组成的辐射计阵列和运动伺服机构完成的，辐射计的数量决定了一个维度的分辨率，运动伺服的运动幅度决定了另一个维度。这种方法需要较多的辐射和专用运动机构，成本较高，多辐射计之间存在温度漂移，定标复杂，而且成像范围和分辨难以改变。这种测试方法存在测试设备及测试环境复杂、对辐射源温度一致性要求高、测试时间长、效率低等问题。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种用于W波段辐射计目标辐射特性的测试系统，解决了传统测试方法中辐射计之间温度一致性要求高、测试流程复杂、测试时间长、效率低的问题。一种用于W波段辐射计目标辐射特性的测试系统，包括：交流电源、直流电源、控制计算机、转台控制单元、二维转台、反射面天线和毫米波辐射计，其中，显控模块运行在控制计算机上。优选的，显控模块的功能为：控制二维转台指向，进行二维扫描，并完成图像的采集和存储。交流电源的输出接口分别与直流电源、控制计算机本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种用于W波段辐射计目标辐射特性的测试系统，其特征在于包括：交流电源(1)、直流电源(2)、控制计算机(3)、转台控制单元(5)、二维转台(6)、反射面天线(7)和毫米波辐射计(8)，其中，显控模块(4)运行在控制计算机(3)上；交流电源(1)的输出接口分别与直流电源(2)、控制计算机(3)、转台控制单元(5)、二维转台(6)的输入接口连接；直流电源(2)的输出接口与毫米波辐射计(8)的输入接口连接；毫米波辐射计(8)的输出接口与反射面天线(7)的输入接口连接；反射面天线(7)的输出接口与二维转台(6)的输入接口连接；二维转台(6)的输出接口与转台控制单元(5)的输入接口连接；转台控制单元...

【技术特征摘要】
1.一种用于W波段辐射计目标辐射特性的测试系统，其特征在于包括：交流电源(1)、直流电源(2)、控制计算机(3)、转台控制单元(5)、二维转台(6)、反射面天线(7)和毫米波辐射计(8)，其中，显控模块(4)运行在控制计算机(3)上；交流电源(1)的输出接口分别与直流电源(2)、控制计算机(3)、转台控制单元(5)、二维转台(6)的输入接口连接；直流电源(2)的输出接口与毫米波辐射计(8)的输入接口连接；毫米波辐射计(8)的输出接口与反射面天线(7)的输入接口连接；反射面天线(7)的输出接口与二维转台(6)的输入接口连接；二维转台(6)的输出接口与转台控制单元(5)的输入接口连接；转台控制单元(5)的输出接口与控制计算机(3)的输入接口连接。2.根据权利要求1所述的用于W波段辐射计目标辐射特性的测试系统，其特征在于：所述的显控模块(4)的功能为：控制二维转台(6)指向，进行二维扫描，并完成图像的采集和存储。3.根据权利要求1所述的用于W波段辐射计目标辐射特性的测试系统，其特征在于：所述的交流电源(...

【专利技术属性】
技术研发人员：吴海涵，赵崇辉，崔广斌，刘一文，
申请(专利权)人：北京遥感设备研究所，
类型：发明
国别省市：北京,11