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本发明涉及一种Mura侦测方法及装置。该Mura侦测方法包括：步骤10、输入测试图像；步骤20、对测试图像执行直方图均衡化操作后，进行Mura缺陷分割，获得第一Mura图像；步骤30、对测试图像执行PCA操作，进行背景重建以获得第一背景图像...
该专利属于深圳市华星光电技术有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过深圳市华星光电技术有限公司授权不得商用。

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