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本发明涉及一种降低超细纱线织物次品率的方法，采用带光电探纬装置的织机对超细纱线进行织造，同时增大光电探纬装置探测背景与纬纱的颜色差异使得断纬缺纬次品率小于0.05％，增大光电探纬装置探测背景与纬纱的颜色差异是通过在织机内纬纱的运行路径的一侧...
该专利属于纺智石墨烯科技（上海）有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过纺智石墨烯科技（上海）有限公司授权不得商用。

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