一种降低超细纱线织物次品率的方法技术

本发明专利技术涉及一种降低超细纱线织物次品率的方法，采用带光电探纬装置的织机对超细纱线进行织造，同时增大光电探纬装置探测背景与纬纱的颜色差异使得断纬缺纬次品率小于0.05％，增大光电探纬装置探测背景与纬纱的颜色差异是通过在织机内纬纱的运行路径的一侧安装颜色为A的色板，且控制色板面向光电探纬装置的光电探头实现的，超细纱线的细度小于等于30D，纬纱的断裂强度≤6.0cN/dtex，光电探纬装置探测背景与纬纱的颜色分别为A和B，A和B为黑色和白色，或者为白色和黑色，或者为一对对比色。本发明专利技术方法简单，在不降低车速的情况下，大大提高了断纬停车率，降低了断纬缺纬次品率，可实现超细纱线织物产业化生产，极具应用前景。

A method of reducing the defective rate of superfine yarn fabrics

The invention relates to a method for reducing the defective rate of superfine yarn fabrics. The superfine yarn is woven on a loom with a photoelectric weft detection device. At the same time, the color difference between the detection background of the photoelectric weft detection device and the weft yarn is increased so that the defective rate of weft breakage and weft missing is less than 0.05%. The color difference between the detection background and the weft yarn is increased through the running path of the weft yarn in the loom. A color plate with color A is installed on the side, and the control color plate is realized by the photoelectric probe facing the photoelectric weft detection device. The fineness of the ultrafine yarn is less than or equal to 30D, the breaking strength of the weft is less than or equal to 6.0cN/dtex. The color of the background and the weft detected by the photoelectric weft detection device is A and B respectively. A and B are black and white, or white and black, or a pair of contrasting colors. The method of the invention is simple, without reducing the vehicle speed, greatly improves the parking rate of weft breaking, reduces the defective rate of weft breaking and weft missing, realizes the industrialized production of superfine yarn fabrics, and has great application prospect.

【技术实现步骤摘要】
一种降低超细纱线织物次品率的方法
本专利技术属于色织面料
，涉及一种降低超细纱线织物次品率的方法.
技术介绍
色织行业是棉纺织行业中的传统优势产业之一，色织面料品种繁多，花型颜色稳定，是衬衣、外衣及下游产业的重要原料。针对色织面料的生产流程长、专业多、设备多、人员多、品种多和要求高的特点，目前，在色织面料的成产过程中还存在一些质量问题，例如在色织面料上表现的纱线质量问题主要有棉结、纱疵、接头不良、毛羽和异性纤维等疵点，在生产过程中表现的质量问题有整经断头多、油纱、回丝以及错支等，在织布上存在浆纱断头、织布断头等，因此，如何控制色织面料的质量，已成为企业长期研究，提升核心竞争力的课题。超细高密色织面料由于具有防风防绒，外观细腻，轻薄以及柔软中带有弹性等特点，得到了人们的广泛使用，然而一些具有特殊功用的改性聚合物纤维(如石墨烯改性纤维或碳纤维等)在制备织物时由于细支纱线强力低，高密度织布张力大，在织造的过程中容易出现断纬和缺纬的现象，现有技术的带光电探纬装置的织机对出现的断纬和缺纬的纱线的灵敏度往往较低，因此使得次品率较高，从而导致生产难度高。因此，研究一种能显著提高光电探纬装置探测灵敏度以降低超细纱线织物次品率的方法具有十分重要的意义。
技术实现思路
本专利技术的目的是克服现有技术中存在的问题，提供一种能显著提高光电探纬装置探测灵敏度以降低超细纱线织物次品率的方法。一种降低超细纱线织物次品率的方法，采用带光电探纬装置的织机对超细纱线进行织造，同时增大光电探纬装置探测背景与纬纱的颜色差异使得断纬缺纬次品率小于0.05％；超细纱线的细度小于等于30D，纬纱的断裂强度≤6.0cN/dtex，光电探纬装置探测背景与纬纱的颜色分别为A和B，A和B为黑色和白色，或者为白色和黑色，或者为一对对比色，对比色是人的视觉感官所产生的一种生理现象，是视网膜对色彩的平衡作用，指在24色相环上相距120度到180度之间的两种颜色，本专利技术的保护范围不限于此，黑色和白色以及对比色是因为颜色差异较大，提高光电探纬装置灵敏度的效果较好才作为本专利技术的重点的，其他颜色组合，只要具有一定的颜色差异，且由于该颜色差异能够提高光电探纬装置的灵敏度，解决断纬缺纬次品率高的问题都在本专利技术的保护范围内。现有技术带光电探纬装置的织机的探测背景为黑色，对于一些颜色较深的纬线而言，探纬装置无法灵敏的探测出断纬，因而导致次品率较高，本专利技术改变以往探测背景的设置方式，根据实际织造过程中所选用的纬线的颜色来对应改变探测背景的颜色，使纬线的颜色和探测背景的颜色产生色差，当探纬装置的光电探头照射在纬纱上时，将纬纱的颜色反射在与之颜色差异较大的探测背景上，在织造过程中若纬纱出现断纬或缺纬时，探测背景即可显示出颜色异常或变化，从而使探纬装置发送停机信号，以方便工作人员及时进行修补，因而大大提高了探纬装置的探测灵敏度，降低了超细纱线织物的断纬缺纬次品率。作为优选的技术方案：如上所述的一种降低超细纱线织物次品率的方法，A和B为一对对比色时，A为黄色、蓝色或红色，B对应为紫色、橙色或绿色，或者A为紫色、橙色或绿色，B对应为黄色、蓝色或红色。本专利技术对比色的种类并不限于此，其它能够实现增大光电探纬装置探测背景与纬纱的颜色差异的对比色均适用于本专利技术。如上所述的一种降低超细纱线织物次品率的方法，增大光电探纬装置探测背景与纬纱的颜色差异是通过在织机内纬纱的运行路径的一侧(送纬装置出口位置)安装颜色为A的色板，且控制色板面向光电探纬装置的光电探头实现的，本专利技术增大光电探纬装置探测背景与纬纱的颜色差异的方式不限于此，其他任意方式只要能提高颜色差异都在本专利技术的保护范围内。如上所述的一种降低超细纱线织物次品率的方法，色板与其对应的光电探头之间的距离为4mm。颜色为A的色板与颜色为B的纬纱相互平行，纬纱位于光电探头与色板之间。如上所述的一种降低超细纱线织物次品率的方法，纬纱包括超细纱线C和超细纱线D，超细纱线C与超细纱线D的细度都为20D，断裂强度分别为2.2～2.9cN/dtex和4.0～6.0cN/dtex，沿超细纱线织物纬向，超细纱线C与超细纱线D按1:8或1:12的数量比交替排列。超细纱线C与超细纱线D的数量比并不限于此，本领域技术人员可根据实际情况进行调整。如上所述的一种降低超细纱线织物次品率的方法，超细纱线C与超细纱线D的颜色相同或不同，不同时，超细纱线C与超细纱线D分别与不同的色板对应，例如超细纱线C与超细纱线D分别为红色和绿色，其对应的色板分别为绿色和红色，超细纱线C与超细纱线D分别与不同的色板对应适用于超细纱线C与超细纱线D的颜色差异较大的情况，此时不容易找到两种颜色的共同对比色，所以分别设置色板，或者与同一块色板对应，例如超细纱线C与超细纱线D分别为黄色和橙色，其对应的色板都为蓝色，超细纱线C与超细纱线D与同一块色板对应适用于超细纱线C与超细纱线D的颜色差异较小的情况，此时容易找到两种颜色的共同对比色。如上所述的一种降低超细纱线织物次品率的方法，超细纱线织物的经纱为超细纱线D；超细纱线织物的经纱密度大于等于218根/英寸，纬纱密度大于等于190根/英寸，门幅为130～170cm，克重为35～45g/m2。如上所述的一种降低超细纱线织物次品率的方法，超细纱线C由石墨烯改性纤维或竹炭纤维组成，超细纱线D由尼龙纤维或涤纶纤维组成。超细纱线C和超细纱线D的种类并不限于此，其它能够满足生产要求或具有特殊功能同时纤维断裂强力却很低的、无法实现生产的其它纱线均适用于本专利技术。如上所述的一种降低超细纱线织物次品率的方法，织机为喷水织机，指开80度角，指关220度角，夹开100度角，夹关320度角，阀切换角300度。如上所述的一种降低超细纱线织物次品率的方法，织造采用双打送纬工艺，打纬车速为550～680转，断纬停车率达到99.96％以上。采用双打送纬工艺的目的是为了区分超细纱线C和超细纱线D的颜色。有益效果：本专利技术的一种降低超细纱线织物次品率的方法，在现有设备的基础上，根据纬纱的颜色设置与之具有不同颜色的色板，增大光电探纬装置探测背景(即色板作为背景)与纬纱的颜色差异，解决了现有技术中光电探纬装置探测灵敏度差的问题，在不降低车速的情况下，大大提高了断纬停车率，降低了断纬缺纬次品率，实现了产业化生产，极具应用前景。附图说明图1为本专利技术喷水织机内色板与光电探纬装置和纬纱的相对位置的示意图；其中，1-光电探头，2-纬纱纱线，3-色板。具体实施方式下面结合具体实施方式，进一步阐述本专利技术。应理解，这些实施例仅用于说明本专利技术而不用于限制本专利技术的范围。此外应理解，在阅读了本专利技术讲授的内容之后，本领域技术人员可以对本专利技术作各种改动或修改，这些等价形式同样落于本申请所附权利要求书所限定的范围。实施例1一种降低超细纱线织物次品率的方法，采用带光电探纬装置的织机对超细纱线进行织造，通过在织机内纬纱的运行路径的一侧(送纬装置出口位置)安装颜色为白色的色板，且控制色板面向光电探纬装置的光电探头实现增大光电探纬装置探测背景(即色板作为背景)与纬纱的颜色差异，使得断纬缺纬次品率低至0.04％。其中，色板与其对应的光电探头之间的距离为4mm，其位置关系如图1所示，光电探头1与纬纱纱线2之间的距离为2mm，纬纱纱线2与色本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种降低超细纱线织物次品率的方法，其特征是：采用带光电探纬装置的织机对超细纱线进行织造，同时增大光电探纬装置探测背景与纬纱的颜色差异使得断纬缺纬次品率小于0.05％；超细纱线的细度小于等于30D，纬纱的断裂强度≤6.0cN/dtex，光电探纬装置探测背景与纬纱的颜色分别为A和B，A和B为黑色和白色，或者为白色和黑色，或者为一对对比色。

【技术特征摘要】
1.一种降低超细纱线织物次品率的方法，其特征是：采用带光电探纬装置的织机对超细纱线进行织造，同时增大光电探纬装置探测背景与纬纱的颜色差异使得断纬缺纬次品率小于0.05％；超细纱线的细度小于等于30D，纬纱的断裂强度≤6.0cN/dtex，光电探纬装置探测背景与纬纱的颜色分别为A和B，A和B为黑色和白色，或者为白色和黑色，或者为一对对比色。2.根据权利要求1所述的一种降低超细纱线织物次品率的方法，其特征在于，A和B为一对对比色时，A为黄色、蓝色或红色，B对应为紫色、橙色或绿色，或者A为紫色、橙色或绿色，B对应为黄色、蓝色或红色。3.根据权利要求2所述的一种降低超细纱线织物次品率的方法，其特征在于，增大光电探纬装置探测背景与纬纱的颜色差异是通过在织机内纬纱的运行路径的一侧安装颜色为A的色板，且控制色板面向光电探纬装置的光电探头实现的。4.根据权利要求3所述的一种降低超细纱线织物次品率的方法，其特征在于，色板与其对应的光电探头之间的距离为4mm。5.根据权利要求4所述的一种降低超细纱线织物次品率的方法，其特征在于，纬纱包括超细纱线C和超细纱线D，超细纱线C与超细纱线D的细度都为20D，断裂强度分别为2.2...

【专利技术属性】
技术研发人员：孙建友，徐庭梦，沈斌，
申请(专利权)人：纺智石墨烯科技上海有限公司，
类型：发明
国别省市：上海,31