下载电连接电容插塞的硅化钴层的制作方法的技术资料

文档序号:20223484

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本发明公开一种电连接电容插塞的硅化钴层的制作方法。其硅化钴层的制作方法,包含提供一基底放置于一腔室中,然后进行一沉积制作工艺,在基底温度介于50℃至100℃之间以及腔室温度介于300℃至350℃之间时,形成一钴材料层覆盖基底,然后在沉积制作...
该专利属于联华电子股份有限公司;福建省晋华集成电路有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过联华电子股份有限公司;福建省晋华集成电路有限公司授权不得商用。

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